日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列
型號:MCPD系列
光譜儀(MCPD-9800 MCPD-3700 MCPD-7700) 提供豐富選配套件以及客制化光纖, 可依據(jù)安裝現(xiàn)場需求評估設(shè)計(jì),是一套可靈活架設(shè)于各種環(huán)境下的最佳即時測量系統(tǒng)
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0755-86677030
產(chǎn)品描述
分光光譜儀種類
MCPD-9800:高動態(tài)范圍分光
MCPD-6800:紫外/可見/近紅外光分光光譜儀
MCPD-7700:高感度分光
膜厚測量
半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機(jī)能性薄膜、包裝膜
膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)
半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機(jī)能性薄膜、包裝膜。
影印機(jī)感光鼓膜厚度量測
半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機(jī)能能性薄膜、包裝膜
LB膜測量
蒸餾膜測量
多點(diǎn)膜厚測量
半導(dǎo)體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)
光阻剝離液厚度、濕狀薄膜
塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)
樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機(jī)能能性薄膜、包裝膜